作者:萊洛特 來源:萊洛特 時(shí)間:2022-01-07 瀏覽次數(shù):
重要注意事項(xiàng)和安全信息
無摩擦主軸,試驗(yàn)力精度高,高精度光學(xué)測(cè)量系統(tǒng),精密坐標(biāo)試臺(tái),試驗(yàn)過程自動(dòng)化,操作簡單,無人為操作誤差,LCD數(shù)字顯示,無人為讀數(shù)誤差,隨機(jī)打印機(jī)打印硬度測(cè)試結(jié)果,可選配CCD攝像裝置及圖像處理系統(tǒng),可選配努氏壓頭進(jìn)行努氏硬度試驗(yàn)。
精度符合GB/T4340.2 ISO 6507-2和美國ASTM E384。
應(yīng)用范圍:
滲氮層、陶瓷、鋼、有色金屬,薄板、金屬薄板、電鍍層、微小試件,碳化層、脫碳層和淬火硬化層的深度測(cè)量,適用于平行平面和微小零件及超薄零件的精密維氏測(cè)量。
主要技術(shù)指標(biāo)
名 稱 | 規(guī) 格 |
測(cè)量范圍 | 5-3000HV |
維氏標(biāo)尺 | HV0.01、HV0.025、HV0.05、HV0.1、 HV0.2、HV0.3、HV0.5、 HV1 |
測(cè) 試 力 | 0.09807、0.2454、0.4904、0.9807、1.961、2.942、4.904、9.807N(10, 25, 50, 100, 200, 300, 500, 1000kgf) |
測(cè)量系統(tǒng)放大倍率 | 100X(觀察)、400X(測(cè)量) |
測(cè)量精度 | 100HV以下±5%;200HV±3%;400HV: 以上±2% |
最小檢測(cè)單位 | 0.5um |
試樣允許最大高度 | 90mm |
壓頭中心至機(jī)壁距離 | 95mm |
電源 | AC220V, 50/60Hz |
外包裝尺寸 | 625*395*815mm |
凈尺寸 | 500*285*540mm |
重量 | 凈 重:36.3kg 毛 重:48.5 kg |
裝箱單:
名 稱 | 規(guī) 格 | 單 位 | 數(shù) 量 | 備 注 |
砝碼 | 套 | 1 | ||
砝碼桿 | 個(gè) | 1 | ||
座標(biāo)試臺(tái) | 個(gè) | 1 | ||
細(xì)軸試臺(tái) | 個(gè) | 1 | ||
薄板試臺(tái) | 個(gè) | 1 | ||
平口鉗 | 個(gè) | 1 | ||
金剛石角錐壓頭 | 只 | 1 | ||
標(biāo)準(zhǔn)顯微硬度塊 | 塊 | 2 | ||
水平調(diào)節(jié)螺釘 | 個(gè) | 4 | ||
水 平 儀 | 個(gè) | 1 | ||
內(nèi)置打印機(jī) | 臺(tái) | 1 | ||
螺絲刀 | 把 | 2 | ||
電 源 線 | 根 | 1 | ||
燈泡 | 個(gè) | 1 | ||
說明書、裝箱單、合格證 | 份 | 1 |
選配配置:
努普壓頭;CCD圖像處理系統(tǒng)
細(xì)節(jié)配圖:

應(yīng)用場(chǎng)景
顯微維氏硬度計(jì)是一種非常精密的材料力學(xué)性能測(cè)試儀器。它的核心特點(diǎn)是測(cè)試力很小壓痕極其微小,幾乎不損壞樣品,因此也被稱為“微區(qū)硬度”測(cè)試,其主要應(yīng)用場(chǎng)景非常廣泛,涵蓋了從基礎(chǔ)科研到工業(yè)質(zhì)檢的多個(gè)領(lǐng)域,具體可以分為以下幾大類:
1. 金屬材料科學(xué)與工程
這是最傳統(tǒng)和主要的應(yīng)用領(lǐng)域。
· 熱處理工藝評(píng)價(jià):評(píng)估淬火、回火、滲碳、滲氮等表面熱處理后的硬化層深度和梯度硬度分布。
· 薄/小零件測(cè)試:測(cè)量薄片、箔材、細(xì)絲(如金屬絲)、微小軸承、鐘表齒輪等無法進(jìn)行常規(guī)硬度測(cè)試的零件。
· 焊接區(qū)域分析:分析焊縫、熱影響區(qū)和母材的硬度差異,評(píng)估焊接工藝和質(zhì)量。
· 涂層/鍍層性能:測(cè)量電鍍層、熱噴涂層、PVD/CVD涂層等表面改性層的硬度。
· 相結(jié)構(gòu)分析:在金相顯微鏡下,對(duì)金屬材料中特定的相(如碳化物、金屬間化合物等)進(jìn)行單獨(dú)測(cè)定,用于材料研究和失效分析。
2. 半導(dǎo)體與電子工業(yè)
在這個(gè)領(lǐng)域,顯微維氏硬度計(jì)是必不可少的工具。
· 晶圓與芯片測(cè)試:測(cè)量硅片、GaAs等半導(dǎo)體材料的硬度,以及芯片內(nèi)部不同薄膜材料的力學(xué)性能。
· 焊點(diǎn)與鍵合線強(qiáng)度:評(píng)估微電子封裝中錫球、金絲等焊點(diǎn)和鍵合線的硬度,關(guān)系到連接的可靠性。
· 液晶玻璃基板:測(cè)量超薄顯示玻璃的硬度。
· 微型電子元件:測(cè)試微型電阻、電容、電感等元件的強(qiáng)度。
3. 陶瓷、玻璃與硬質(zhì)合金
這些材料通常非常硬且脆,顯微維氏硬度計(jì)非常適合。
· 結(jié)構(gòu)陶瓷:測(cè)量氧化鋯、碳化硅、氮化鋁等先進(jìn)陶瓷的硬度和斷裂韌性。
· 功能陶瓷:如壓電陶瓷、基板等。
· 硬質(zhì)合金:測(cè)量WC-Co等硬質(zhì)合金中碳化鎢顆粒和鈷粘結(jié)相的硬度。
· 玻璃制品:用于評(píng)估手機(jī)屏幕玻璃、光學(xué)玻璃、實(shí)驗(yàn)室器皿等的抗劃傷能力和強(qiáng)度。
4. 地質(zhì)與礦物學(xué)
· 礦物鑒定:通過測(cè)量不同礦物的硬度,作為礦物鑒定的輔助手段。
· 巖石組成分析:分析巖石中不同礦物組分的硬度,研究其形成過程和力學(xué)行為。
5. 生物醫(yī)學(xué)與牙科材料
· 牙齒材料:測(cè)量牙釉質(zhì)、牙本質(zhì)以及各種填充材料(如復(fù)合樹脂、陶瓷牙冠)的硬度。
· 人工關(guān)節(jié)與植入物:測(cè)試鈦合金、鈷鉻合金、氧化鋯等生物醫(yī)用材料的表面硬度及耐磨性。
· 骨組織研究:在科研中用于測(cè)量骨小梁等骨微觀結(jié)構(gòu)的硬度。
6. 復(fù)合材料與新材料研究
· 復(fù)合材料界面:研究纖維增強(qiáng)復(fù)合材料(如碳纖維/環(huán)氧樹脂)中纖維、基體以及兩者結(jié)合界面的硬度。
· 功能梯度材料:測(cè)量材料從表面到內(nèi)部成分和硬度連續(xù)變化的梯度分布。
· 納米材料與薄膜:在納米技術(shù)領(lǐng)域,用于評(píng)估超硬薄膜(如類金剛石薄膜DLC)、納米多層膜等的性能。
7. 失效分析
· 斷口分析:在零件失效的斷口附近進(jìn)行硬度測(cè)試,判斷是否存在材料軟化、加工硬化或異常組織導(dǎo)致失效。
· 表面損傷分析:分析磨損、腐蝕等損傷區(qū)域的硬度變化。
因此,凡是需要對(duì)微小區(qū)域、薄層或脆性材料進(jìn)行硬度評(píng)價(jià)的場(chǎng)景,顯微維氏硬度計(jì)幾乎都是首選工具。

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